IM3533LCR測(cè)試儀產(chǎn)品概述應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇● 基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）● 在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。● 內(nèi)置比較器和BIN功能● 2ms的快速測(cè)試時(shí)間
更新時(shí)間：2018-07-26
IM3533LCR測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)
在電容的測(cè)量條件中希望以120Hz測(cè)量C-D。希望以100kHz測(cè)量ESR。這時(shí)，使用1臺(tái)告訴連續(xù)測(cè)量不同條件。
為了使用1臺(tái)LCR測(cè)試儀測(cè)量多種產(chǎn)品，要求高效率的更改設(shè)置。
IM3523的面板保存功能更，最多保存60組測(cè)量條件，還能保存128個(gè)開路/短路補(bǔ)償和線長(zhǎng)補(bǔ)償?shù)鹊难a(bǔ)償值。使用面板功能讀取所保存的測(cè)量條件。除了手動(dòng)讀取以外，可以使用外部控制端口控制面板編號(hào)的讀取，因此能縮短構(gòu)筑自動(dòng)化檢查產(chǎn)線的時(shí)間。
檢查4端子測(cè)量時(shí)樣品間的接觸不良。
測(cè)量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，如果在所設(shè)置的閾值以上時(shí)則顯示錯(cuò)誤。
IM3533LCR測(cè)試儀選型指南
測(cè)量模式 | LCR,連續(xù)測(cè)試 |
測(cè)量參數(shù) | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
測(cè)量量程 | 100mΩ～100MΩ,10個(gè)量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義) |
可顯示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
測(cè)量頻率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
測(cè)量信號(hào)電平 | 正常模式 |
輸出阻抗 | 正常模式：100Ω |
顯示 | 單色LCD |
測(cè)量時(shí)間 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 | 比較器，分類測(cè)量(BIN功能)，面板讀取/保存、存儲(chǔ)功能 |
接口 | EXT I/O(處理器)，USB通信(高速) |
電源 | 100～240V AC，50/60Hz，最大50VA |
尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 電源線×1，使用說(shuō)明書×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 |
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